鄭州高低溫試驗(yàn)箱現(xiàn)貨廠(chǎng)家促銷(xiāo)

　　鄭州高低溫試驗(yàn)箱/鄭州高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車(chē)摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)gb-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按gb2423.1、gb2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)a:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)b:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合gb2423.1、gb2423.2、gjb150.3、gjb150.4、iec

　　鄭州高低溫試驗(yàn)箱/鄭州高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。

　　型號(hào)SW/GDW-50?SW/GDW-100SW/GDW-150SW/GDW-225

　　工作室尺寸:mm350×350××450××500××600×750

　　型號(hào)SW/GDW-408SW/GDW-800SW/GDW-1000SW/GDW-1500

　　工作室尺寸:mm650×750××1000××1000××1000×1000

　　技術(shù)參數(shù)溫度范圍a型-20℃~+100℃(+150℃)/b型-40℃~+100℃(+150℃)c型-70℃~+100℃波動(dòng)度≤±0.5℃均勻度≤2℃升溫速率1.0~3.0℃/min降溫速率0.7~1℃/min

　　鄭州高低溫試驗(yàn)箱/鄭州高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)gb低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件gb高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件gb高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件gb/t5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備gb2423.1電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)a:低溫試驗(yàn)方法gb2423.2電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)b:高溫試驗(yàn)方法gb2424.1電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

　　銅川高低溫試驗(yàn)箱/銅川高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱根據(jù)試驗(yàn)方法與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)可分為“交變?cè)囼?yàn)”和“恒溫試驗(yàn)”,兩種試驗(yàn)方法都是在高低溫試驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上進(jìn)行升級(jí)拓展,交變?cè)囼?yàn)箱是指可以一次性將需要做的高溫、低溫、時(shí)間設(shè)定在儀表參數(shù)內(nèi),試驗(yàn)箱會(huì)按照設(shè)定走程序,高低溫試驗(yàn)箱就是在做一個(gè)固定的溫度,使試驗(yàn)效果更接近自然氣候,模擬出更惡劣的自然氣候,從而使被測(cè)樣品的可靠性更高。

　　鄭州高低溫試驗(yàn)箱/鄭州高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電子電器、LED照明、光電、LCD、**、航天航空、塑料、橡膠、五金、化工等行業(yè),電子零件、汽車(chē)零件、筆記本產(chǎn)品/磁性材料、電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、釹鐵硼、金屬材料及其材料以及其原器件產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。